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IRD LEXSECO磁芯損耗(hao)測試儀

IRD LEXSECO磁芯損耗測試儀
該LEXSECO ®酷睿損耗測(ce)試儀利(li)用高(gao)分辨率通量(liang)提供高(gao)準確度,波形無(wu)關的讀數,被檢查電(dian)流和功率測(ce)量(liang)的核心設備。
核心損耗(hao)測試儀(yi)包括具(ju)有固(gu)態控制的可變電(dian)抗變壓器(VRT),數字計(ji)量包,計(ji)算機系統(tong)和(he)(he)帶快速連接配件的測試電(dian)纜(lan)。提(ti)供***保險絲,過溫(wen)保護,聯鎖,浪(lang)涌抑制器和(he)(he)斷路(lu)器,以向硬件和(he)(he)操作(zuo)員提(ti)供較大的保護。
磁芯(xin)損耗測(ce)(ce)試儀為某(mou)些型號提(ti)(ti)供(gong)0至2,000安培的(de)(de)(de)可調輸出(chu)電(dian)流(liu),對(dui)其他型號提(ti)(ti)供(gong)高達(da)4,000安培的(de)(de)(de)可調輸出(chu)電(dian)流(liu)。通過LEXSECO使(shi)用(yong)的(de)(de)(de)VRT ®提(ti)(ti)供(gong)了方便的(de)(de)(de)控制(zhi)和(he)自我限(xian)制(zhi)的(de)(de)(de)電(dian)流(liu),這(zhe)兩(liang)者提(ti)(ti)供(gong)比(bi)行(xing)業中使(shi)用(yong)動力(li)其它來源的(de)(de)(de)巨大優(you)勢。您LEXSECO ®酷睿損耗測(ce)(ce)試儀的(de)(de)(de)設計與LEXSECO使(shi)用(yong)® MP 7 TM軟件。這(zhe)種高度精細的(de)(de)(de)軟件和(he)硬件組合將確保準確的(de)(de)(de)結(jie)果。

IRD LEXSECO磁芯損耗測試儀
標準功能:
所有型號
MP軟(ruan)件和計量(liang)系統
助焊劑測量電纜
電纜支架
鎖鋼蓋(gai)
型號2125及(ji)以上
交流轉子(zi)和直流電樞測(ce)試包。
可選功能:
模型1081,2025,2040,2060
擴展輸入電壓范圍,220-600V
型號2125,2200,3000
擴展輸入電壓(ya)范圍480-600V
型號2060及(ji)以下
交流轉子和(he)直流電樞測試包。


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